インライン型両面検査装置

4プロープ両面機
検査サイズ: 510×340mm
インライン型ローダー併用で全自動検査プロセス
ダメージレス高速4端子ケルビン検査
リニアモータ使用で高速検査、低振動
ローダー併用で全自動検査プロセス
誤報ゼロ-インライン型ベリファイプロセス可
4端子ケルビン検査機能
埋め込み受動素子検査機能
HDI向け量産検査に適切
外形 / 重量(Dimensions / Weight) | 1,580 (w) x 1,286 (d) x 1,335 (h) mm / 1,300 kg | |
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電源(Power requirements) | AC200-230V ±10% 3φ30A ※3 | |
最大検査エリア(Maximum test area) | 510×340mm | |
基板サイズ(Board size) | 50×50mm ~ 520×350mm | |
板厚(Thickness) | 0.1 ~ 5.0mm | |
最小測定サイズ 注1 (Minimum testing size) Note1 |
パターンピッチ(Pattern pitch) | 30μm /全エリア ※1、2 |
パッドサイズ (Pad size) |
5μm /全エリア ※1、2 |
プローブ(Probe) | 数(Probe heads) | 4本(上:2本 / 下:2本) 4probes(2probes on each side) |
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繰り返し精度(Repeatability accuracy) | ±1μm※1、3/td> | |
接触圧(Contact pressure) | 2-10g | |
CCDカメラ (CCD camera) | 4台(上:2台 / 裏:2台) | |
絶縁検査電圧 (Isolation Test voltage) | 1000V(最大)※ 1000V(max) ※4 |
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低抵抗検査電流(Low resistance Test current) | 100mA 公称 (Typ) | |
検査方式(Test method) | オープン検出測定(導通検査) Open detection (Continuity Test) |
設定範囲:1Ω – 1GΩ (Range : 1Ω – 1GΩ) |
ショート検出測定(絶縁測定) |
設定範囲:1.0GΩ (最大)迄 |
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容量測定 Capacitance measurement |
マスター値による相対比較 (Comparison with master data) | |
低抵抗測定(4wire) Low resistance measurement |
設定範囲:1.0mΩ – 10kΩ |
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埋込み素子テスト機能 Resistance Embedded passive component test function Capacitance Option Inductance |
Range:1 mΩ to 1GΩ (Typ)including 4WK range Range:1pF to 10uF(Typ) Range: 10uH to 100mH (Typ) |
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検査データ編集 | 入力フォーマット(Input format) | IPC D 356A / MNF / Others |
Job編集支援ソフト(Job Creator) | Job Creator Optionally available CAM Software | |
検査データ作成ソフト(Test data preparation) | SmartTest Optionally available Software | |
不良解析ソフト(Failure analysis) | 市販解析ソフトウェア(Commercially available S/W) |
※1:容量23±3℃にて規定。
※2:プローブ先端径を考慮せず、装置のプロービング動作として規定。
※3:電源トランスや低電圧装置等が必要となる場合は、別途お問い合わせください。
※4:被測定物に応じて正しい印加電圧レベルの設定が必要です。
※5:電源トランスや低電圧装置等が必要となる場合は、別途お問い合わせください。
※5:低抵抗領域での接触抵抗を含みません。
※6:詳細は別途、お問い合わせください。
インライン型両面検査装置。
横型両面機。基板自動投入Set1枚